有效期至长期有效 | 最后更新2023-11-14 11:54 |
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陶瓷砖综合测定仪
陶瓷砖综合测定仪适用于测定各种墙面砖、地面砖尺寸及形状特性之仪器,其所测参数包括面砖的边直度、直角度、平整度(弯曲度、边弯曲度、翘曲度)等几项指标。本产品符合:GB/T3810.2-2016,idt ISO 10545-2-1995《陶瓷砖-尺寸和表面质量的检验》的要求。适用于测定各种墙面砖、地面砖尺寸及形状特性之仪器,其所测参数包括面砖的边直度、直角度、平整度(弯曲度、边弯曲度、翘曲度)等几项指标。本产品符合:GB/T3810.2-2016,idt ISO 10545-2-1995《陶瓷砖-尺寸和表面质量的检验》的要求。
结构原理:
陶瓷砖综合测定仪由支承平板、可移动的左支座和右支座组成一个直角坐标系。在平板上有三个等高支承销与陶瓷面砖类似外形和具有%尺寸的标准板进行探测,并将仪表值调整至适当位置,并记下该示值。然后,以被测陶瓷面砖取代标准板,在不移动测量点的情况下,分别测出六项指标参数。左、右支座及中心测量支座可在平板上作平行移动,组成不同位置的空间座标,以适应不同规格尺寸陶瓷面砖的测定。
陶瓷砖综合测定仪的试验与操作:
1、根据所测陶瓷砖的规格,选择相应的标准板;
2、确定各个被测点和定位点并将导轨座调整到位。使定位头、测头均固定在所要求的点上;
3、调节三个标准定位头,使其与标准板的侧面均为密切接合,然后将各表头调到零位;
4、取出标准板,将要检查的样品安放在原标准板的位置上,安置好后进行测定、记录,并将六块表上的示值记入相应的表格,便是要测试的误差或计算直角,度的原始记录值。
更多产品信息来源:http://www.huayang17.com/zghy17-Products-36261166/
https://www.chem17.com/st268171/product_36261166.html
结构原理:
陶瓷砖综合测定仪由支承平板、可移动的左支座和右支座组成一个直角坐标系。在平板上有三个等高支承销与陶瓷面砖类似外形和具有%尺寸的标准板进行探测,并将仪表值调整至适当位置,并记下该示值。然后,以被测陶瓷面砖取代标准板,在不移动测量点的情况下,分别测出六项指标参数。左、右支座及中心测量支座可在平板上作平行移动,组成不同位置的空间座标,以适应不同规格尺寸陶瓷面砖的测定。
陶瓷砖综合测定仪的试验与操作:
1、根据所测陶瓷砖的规格,选择相应的标准板;
2、确定各个被测点和定位点并将导轨座调整到位。使定位头、测头均固定在所要求的点上;
3、调节三个标准定位头,使其与标准板的侧面均为密切接合,然后将各表头调到零位;
4、取出标准板,将要检查的样品安放在原标准板的位置上,安置好后进行测定、记录,并将六块表上的示值记入相应的表格,便是要测试的误差或计算直角,度的原始记录值。
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