M10127 3D全自动正置金相显微镜

M10127科研级3D全自动超景深正置金相显微镜

关键字：3D全自动超景深正置金相显微镜，金相显微镜，景深融合，超景深，全电动XYZ工作台，多分光比观察头，3D图像拼接

全新的 M10127系列研究级金相显微镜升级为全电动XYZ工作台机型，配合功能软件，从外观到性能都紧跟设计风向, 致力于拓展工业领域全新格局。配合高质量半复消Semi-APO光学系统，和透反射照明装置，实现明场暗场偏光DIC微分干涉相衬全功能观察方式，XYZ电动平台和软件提供全自动软件功能，融2D/3D高速成像，景深融合，自动对焦等功能于一身，将是您工作中得力的助手！

XY电动控制

通过软件控制电动平台XY方向移动，三种控制方式，既可以手动直接拖动窗口移动平台，也可以双击图像，指哪去哪一键直达

多分光比观察头

M10127 观察头设计有多种分光比选择。采用宽光束成像系统, 可提供 26.5mm 超宽视野。正像三目头使样品的运动方向与观察到的一致。分光比可在 E100:P0 或 E0:P100 之间切换。倒像三目头, 分光比 E100:P0 或 E20:P80 或 E0:P100。除了100%聚光到目镜筒或摄像管外, 还有20%聚光到目镜筒和80%聚光到相机筒的选择, 目镜观察和图像输出可以同时进行。

偏光系统

偏光片和检偏器有助于消除半导体和PCB检测中的杂散光, 可获得清晰细节的图像。有固定分析仪和可旋转分析仪可供选择。可使用 360°可旋转分析仪以不同的偏振角度观察样品。此外, 安装新开发的 DIC 附件后,该偏振系统可以升级为 Nomarski 微分干涉对比系统。

Nomarski 微分干涉对比度 (DIC)

表面上无法在明场中发现的微细凹凸, 可以通过使用 U-DICR 附件来检测, 以创建高对比度背景。适用于LCD的导电粒子、精密磁盘的表面划痕检测