安捷伦Agilent4156B参数分析仪

4156B 安捷伦半导体参数分析仪
4156B 是安捷伦的半导体参数分析仪。半导体参数分析仪是用于各种测量功能的多合一工具。半导体参数分析仪可以测量和分析多种电子设备、材料、有源或无源元件、半导体或任何其他类型的电子设备的电气特性。工程师使用这台测试设备来监测不同类型设备中的电流和电压响应。附加的功能：
高分辨率/准确度和宽范围。I：1 fA 至 1 A（20 fA 偏移精度），V：1μV 至 200 V
采用直流或脉冲模式的全自动 IV 扫描测量，可扩展至 6 个 SMU
同步应力/测量功能，两个高压脉冲发生器单元 (±40 V)
时域测量：60μs – 可变间隔，z多 10,001 个点
易于使用：类似于曲线跟踪器的旋钮扫描，自动分析功能
自动化：内置 HP Instrument BASIC、触发 I/O 功能
设置测量和/或压力条件
控制测量和/或压力执行
执行算术计算
在 LCD 显示屏上显示测量和计算结果
执行图形分析
存储和调用测量设置，以及测量和图形显示数据
转储到打印机或绘图仪以进行硬拷贝输出
使用内置的 HP Instrument BASIC 执行测量和分析
自检、自动校准
Agilent HP 4156B 是下一代精密半导体参数分析仪。您将获得z好的数字扫描参数分析仪、可靠性测试仪、功能强大的故障分析工具和自动进货检测站，所有这些都集成在一台仪器中。
这个新系列经过明确设计，旨在为评估您的亚微米几何器件提供前所未有的精度和功能。使用一台灵活的仪器，您可以从材料评估和器件表征一直到z终封装部件检查和现场故障分析，提高您的半导体质量。